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进口显微镜常见故障解析
进口显微镜常见故障解析
 
    德国蔡司(ZEISS)做为显微镜的鼻祖——国际标准的缔造者160年来一直处于光学领域领导地位,而其它显微镜厂家一直追赶和效仿蔡司,但关键技术没有学到,使得产品不够完善,在使用过程中不可避免地出现一些故障,从而影响用户的正常工作。现就一些常见故障解析如下:
   1、显微镜使用一段时间图像质量下降,关机一段时间再打开图像质量就会明显好转。诊断:镜头镀膜技术不过关,长时间使用镜头受热后镀膜发散导致。
   2、手动调焦时图像清晰,松手后图像模糊。 诊断:调焦机构老化。
   3、目镜观察时图像清晰,但采集到的图像却不清晰。 把采集到的图像调整清晰时, 目镜里观察图像又不清晰了。诊断:系统齐焦性不够,观察和采集不能同步。
   4、载物台下滑、平移。诊断:载物台锁定机构采用星型齿轮,长时间使用稳定性降低。
   5、图像中间清晰边缘模糊。诊断:球差校正不完善。
 
放大倍率计算方法:
           通过目镜:
          总放大倍率=物镜倍率 X 目镜倍率(如有中间变倍,再乘中间倍率)
           照相时:
          总放大倍率=物镜倍率 X 照相目镜倍率
          接视频时:
          总放大倍率=物镜倍率 X 接口倍率 X 视频放大倍数
          视频放大倍数 =显示屏幕对角线尺寸/CCD靶面尺寸
 
 
    常用观察方法:
§    明场:(利用照明光线直接照射在被测试样反射回来 后观察,适用于常规组织的检测,如珠光体/铁素体/马氏体等金相组  织的观察)
§     暗场:(利用丁道尔现象所产生的光的衍射/绕射,用斜射照明的  方式观察被测试样,可以看到明场有时看不到的物质,故又称为超显微术,适用于夹杂物或缺陷的检查)
§     偏光:(利用偏光镜片的单向振动特性,在垂直正交时可对具有双折射性的物质进行定性检查,适用与地质岩相和晶体性  夹杂物的观察,如氧化亚铜夹杂的检查)
§     微分干涉:(又称DIC或诺马尔斯基观察法,观察时立体感明显,可用于微小缺陷的观察,常用于科研)
§     其他观察方法: 如荧光/相差等等
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